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影響介質(zhì)損耗因數(shù)測量結(jié)果的因素有哪些

更新時間:2021-12-03      瀏覽次數(shù):534
  影響介質(zhì)損耗因數(shù)測量結(jié)果的因素有如下幾點:
 
  (1)溫度的影響。溫度對tanδ有直接影響,其程度隨絕緣材料、設(shè)備結(jié)構(gòu)的不同而異。一般情況下,tanδ隨溫度升高而增大,為了便于比較,應(yīng)將不同溫度下測得的tanδ值換算至20℃,再進(jìn)行比較。
 
  油浸式電力變壓器的溫度換算公式為:
 
  tanδ2=tanδ1×1.3(t1-t2)/10
 
  公式中,tanδ1、tanδ2分別為t1、t2時的tanδ值。
 
  由于被試品的真實平均溫度很難測準(zhǔn),對換算結(jié)果的正確性收到影響。因此,應(yīng)盡可能在10-30℃溫度下進(jìn)行測量,最好每次在相近溫度下測量。
 
  受潮的絕緣材料在0℃以下時水分會凍結(jié),tanδ會降低。因此,過低溫度下測得的tanδ不能反映真實的絕緣狀況,故測量tanδ的溫度不應(yīng)低于5℃。
 
  (2)試驗電壓的影響。良好絕緣的tanδ不隨電壓的升高而明顯增加。若內(nèi)部有缺陷,則其tanδ將隨試驗電壓的升高而明顯增加。
 
  (3)Tanδ與試品電容的關(guān)系。對電容量較小的設(shè)備(如套管、互感器、耦合電容器等),測量tanδ能有效地發(fā)現(xiàn)局部集中性和整體分布性的缺陷。但對電容量較大的設(shè)備(如大、中型變壓器等),測量tanδ只能發(fā)現(xiàn)絕緣的整體分布性缺陷,因為局部集中性的缺陷所引起的損壞增加只占總損耗的極小部分,容易被掩蓋,設(shè)備絕緣結(jié)構(gòu)總是由許多部件構(gòu)成并包含多種材料,可以看成是由許多串、并聯(lián)等值回路組成。
 
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